| 담당자 | 사무국 | 등록일 | 2024-03-26 |
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| 첨부파일 | 현미경학회 뉴스레터용 포스터_PE_한국아이티에스_1.jpg | ||
 ㈜한국아이티에스에서 point electronic社의 STEBIC(STEM+EBIC)을 소개 드립니다. 기존의 TEM biasing holder를 이용한 In-situ imaging of electrical activity at the nanoscale 뿐만 아니라 DISS6-TEM scan controller를 이용한 Advanced scan pattern을 활용한 효율적인 Scanning이 가능합니다. 담당자: 정구범 선임 (010-3431-8143) |
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