작성자: 관리자   |   등록일: 2014-01-07 14:06:41
댓글: 0
조회 수: 1585

안녕하십니까 한국현미경 학회 입니다.

 

2014년 한국현미경학회 재료분야 기술자격시험 일정을 안내해 드립니다.

안녕하십니까 한국현미경 학회 입니다.

 

2014년 한국현미경학회 재료분야 기술자격시험 일정을 안내해 드립니다.

* 2014년 의생물분야의 기술자격시험은 없음.

 

 

1. 접수
  1) 제출서류 : 1. 지원원서 (사진 2매 포함),
  2. 응시료 (우편 접수 시 우편환 이용하여 동봉)
  3. 경력증명서 또는 대학 졸업증명서 (전문대 졸업자는 경력증명서와 졸업증명서)
  2) 주의사항 : 지정된 원서를 사용하고, 원서 인쇄 시 좌우여백을 5mm로 맞추기 바람.
  3) 응시료:  2급: 10,000원,  1급: 30,000원
  4) 접수기간 : 2014년 1월 14일 도착분에 한함
  5) 접수처 :   경남대학교 첨단분석센터 전자현미경실 이홍림 교수
                [631-701] 경남 창원시 마산합포구 경남대학교로 7 
  6) 주의사항:  서류양식은 첨부된 파일을 내려 받아 작성하기 바람
  7) 문의 : 전화 055-249-2564 이메일 januslee@kyungnam.ac.kr (이홍림 교수)
 
2. 필기시험
  1) 날 짜 : 2014년 1월 18일(토), 오전 8시 40분 ~ 11시 55분
  2) 수검종목 : 전자현미경 전문가 1급, 전자현미경 전문가 2급
  3) 시험장소: 중북부지역: 성균관대학교 자연과학캠퍼스 제2공학관 26211강의실 (경기 수원시)
       남부지역: 경남대학교 제2공학관 501강의실(경남 창원시)
  4) 시험과목 :
    가. 2급 (2급은 TEM과 SEM을 구분하여 시행)
 a. 전자현미경 원리와 구조 : 전자현미경 기초이론과 일반구조
 b. 전자현미경 성분분석: 전자현미경의 조성 분석을 위한 EDS 및 WDS 분석 원리
 c. 전자현미경 분석 및 작동 : 전자현미경의 작동방법, 관리유지, 결과분석
    나. 1급 (1급은 TEM과 SEM 구분이 없음.)
 a. 전자현미경 원리와 구조 : 전자현미경 기초이론과 일반구조
 b. 특수기술 : 최근에 개발된 특수기술
 c. 전자현미경 분석 및 작동 : 전자현미경의 작동방법, 관리유지, 결과 분석
  5) 시험방법 : 2급 : 객관식
               1급 : 주관식

3. 실기시험
  1) 지원자격 : 필기시험 합격자 또는 면제자 (합격자는 학회 홈페이지에 공지)
  2) 날짜: 2014년 2월 8일(토), 오전 8시40분 ~ 오후 5시
  3) 수검종목: 전자현미경 전문가 2급 (1급은 실기시험 없음)
  4) 시험장소: 중북부지역: 성균관대학교 자연과학캠퍼스 제2공학관 26211강의실 (경기 수원시)
       남부지역: 경남대학교 제2공학관 501강의실(경남 창원시)
  5) 시험과목:   1교시 주관식으로 전자현미경 작동원리 및 분석과정, 결과 분석 능력 등 평가
  2교시 실기시험으로 전자현미경 운용 능력 및 미세구조 해석능력 평가
  6) 시험장비: 성균관대학교 TEM : JEOL JEM-3010, SEM : Hitachi S3500
              경남대학교 SEM : Hitachi S4200
  7) 응시료 : 30,000원 (시험 당일 납부)

 

4. 응시자격 (첨부된 파일 참조)

 

1. 접수
  1) 제출서류 : 1. 지원원서 (사진 2매 포함),
  2. 응시료 (우편 접수 시 우편환 이용하여 동봉)
  3. 경력증명서 또는 대학 졸업증명서 (전문대 졸업자는 경력증명서와 졸업증명서)
  2) 주의사항 : 지정된 원서를 사용하고, 원서 인쇄 시 좌우여백을 5mm로 맞추기 바람.
  3) 응시료:  2급: 10,000원,  1급: 30,000원
  4) 접수기간 : 2014년 1월 14일 도착분에 한함
  5) 접수처 :   경남대학교 첨단분석센터 전자현미경실 이홍림 교수
                [631-701] 경남 창원시 마산합포구 경남대학교로 7 
  6) 주의사항:  서류양식은 첨부된 파일을 내려 받아 작성하기 바람
  7) 문의 : 전화 055-249-2564 이메일 januslee@kyungnam.ac.kr (이홍림 교수)
 
2. 필기시험
  1) 날 짜 : 2014년 1월 18일(토), 오전 8시 40분 ~ 11시 55분
  2) 수검종목 : 전자현미경 전문가 1급, 전자현미경 전문가 2급
  3) 시험장소: 중북부지역: 성균관대학교 자연과학캠퍼스 제2공학관 26211강의실 (경기 수원시)
       남부지역: 경남대학교 제2공학관 501강의실(경남 창원시)
  4) 시험과목 :
    가. 2급 (2급은 TEM과 SEM을 구분하여 시행)
 a. 전자현미경 원리와 구조 : 전자현미경 기초이론과 일반구조
 b. 전자현미경 성분분석: 전자현미경의 조성 분석을 위한 EDS 및 WDS 분석 원리
 c. 전자현미경 분석 및 작동 : 전자현미경의 작동방법, 관리유지, 결과분석
    나. 1급 (1급은 TEM과 SEM 구분이 없음.)
 a. 전자현미경 원리와 구조 : 전자현미경 기초이론과 일반구조
 b. 특수기술 : 최근에 개발된 특수기술
 c. 전자현미경 분석 및 작동 : 전자현미경의 작동방법, 관리유지, 결과 분석
  5) 시험방법 : 2급 : 객관식
               1급 : 주관식

3. 실기시험
  1) 지원자격 : 필기시험 합격자 또는 면제자 (합격자는 학회 홈페이지에 공지)
  2) 날짜: 2014년 2월 8일(토), 오전 8시40분 ~ 오후 5시
  3) 수검종목: 전자현미경 전문가 2급 (1급은 실기시험 없음)
  4) 시험장소: 중북부지역: 성균관대학교 자연과학캠퍼스 제2공학관 26211강의실 (경기 수원시)
       남부지역: 경남대학교 제2공학관 501강의실(경남 창원시)
  5) 시험과목:   1교시 주관식으로 전자현미경 작동원리 및 분석과정, 결과 분석 능력 등 평가
  2교시 실기시험으로 전자현미경 운용 능력 및 미세구조 해석능력 평가
  6) 시험장비: 성균관대학교 TEM : JEOL JEM-3010, SEM : Hitachi S3500
              경남대학교 SEM : Hitachi S4200
  7) 응시료 : 30,000원 (시험 당일 납부)

 

4. 응시자격 (첨부된 파일 참조)

번호 제목 작성자 날짜 조회 수
245 Basic TEM 워크숍_구미전자정보기술원(GERI) file 관리자 2015-08-04 132
244 Electron Microscope Analysis Workshop file 관리자 2015-06-29 200
243 [자이스 코리아] '2015 ZEISS FE-SEM Workshop' 개최 file 관리자 2015-06-17 330
242 2015년 한국현미경학회 제 22 회 투과전자현미경 워크샵 file 관리자 2015-06-05 677
241 제 17 회 주사전자현미경 워크샵 개최-취소 file 관리자 2015-06-04 651
240 2015년 5월 구미전자정보기술원 FIB Basic 워크숍 file 관리자 2015-05-07 187
239 제1회 첨단분석 워크숍 안내 file 관리자 2015-04-21 322
238 [BRUKER] 2015년 6월 4일 Micro-XRF on SEM 워크숍 file 관리자 2015-04-21 158
237 2015년 제3사분기 HVEM 장비 이용신청 안내 file 관리자 2015-03-24 165
236 FIB / EDS•EBSD Seminar file 관리자 2015-03-06 570
235 구미전자정보기술원(GERI)_2015년 Basic TEM 워크숍 안내 file 관리자 2015-03-03 447
234 제 17 회 주사전자현미경 워크샵 개최 file 관리자 2015-01-26 635
233 [접수마감] 한국과학기술연구원 특성분석센터_ TEM 워크샵 개최 관리자 2014-10-17 362
232 한국과학기술연구원 특성분석센터_ TEM 워크샵 개최(마감) file 관리자 2014-10-14 625
231 KBSI 이미징장비 사진 공모전 file 관리자 2014-10-10 331
230 충남대학교 분석과학기술대학원 2015학년도 신입생 모집안내 file 관리자 2014-10-01 620
229 제3회 분석과학국제컨퍼런스 Second Circular (한국기초과학지원연구원) file 관리자 2014-09-29 496
228 6th MTA Forum_Biomta file 관리자 2014-07-30 420
227 '제3회 분석과학국제컨퍼런스' First Circular file 관리자 2014-06-30 905
226 2014 KBSI & Leica EM workshop file 관리자 2014-06-17 662