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258 |
ZEUS 장비활용종합포털 소개 및 메뉴별 안내
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관리자
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2015-12-22 |
144 |
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257 |
[미래창조과학부]2016년 해외대형연구시설 활용연구 지원사업 신규과제 모집공고
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관리자
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2015-12-08 |
91 |
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256 |
[기초과학공동기기원] 현미경관련장비 분석 서비스
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관리자
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2015-12-07 |
321 |
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255 |
제17회 주사전자현미경 워크샵 개최
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관리자
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2015-12-03 |
709 |
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254 |
2016년 상반기 HVEM 장비 이용신청 안내
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관리자
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2015-11-25 |
77 |
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253 |
Quantification and EDS From Spectrum to Composition - Oct. 22
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관리자
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2015-10-20 |
156 |
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252 |
한국현미경학회_Applied Microscopy_스페셜 이슈
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관리자
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2015-09-21 |
369 |
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251 |
제4회 분석과학국제컨퍼런스 (ICAST 2015)
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관리자
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2015-09-18 |
150 |
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250 |
구미전자정보기술원 FIB 장비교육 워크숍 개최
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관리자
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2015-09-11 |
194 |
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249 |
제 3회 TESCAN KOREA USERS MEETING
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관리자
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2015-09-07 |
170 |
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248 |
[BRUKER] Micro XRF on SEM 무료 Sample Test 프로모션을 진행
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관리자
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2015-08-13 |
203 |
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247 |
[BRUKER] EBSD Workshop
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관리자
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2015-08-11 |
92 |
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246 |
서울대학교 재료분석 Workshop
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관리자
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2015-08-05 |
226 |
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245 |
Basic TEM 워크숍_구미전자정보기술원(GERI)
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관리자
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2015-08-04 |
134 |
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244 |
Electron Microscope Analysis Workshop
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관리자
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2015-06-29 |
200 |
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243 |
[자이스 코리아] '2015 ZEISS FE-SEM Workshop' 개최
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관리자
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2015-06-17 |
546 |
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242 |
2015년 한국현미경학회 제 22 회 투과전자현미경 워크샵
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관리자
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2015-06-05 |
678 |
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241 |
제 17 회 주사전자현미경 워크샵 개최-취소
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관리자
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2015-06-04 |
653 |
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240 |
2015년 5월 구미전자정보기술원 FIB Basic 워크숍
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관리자
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2015-05-07 |
187 |
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239 |
제1회 첨단분석 워크숍 안내
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관리자
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2015-04-21 |
323 |
