번호 제목 작성자 날짜 조회 수
253 Quantification and EDS From Spectrum to Composition - Oct. 22 file 관리자 2015-10-20 139
252 한국현미경학회_Applied Microscopy_스페셜 이슈 관리자 2015-09-21 353
251 제4회 분석과학국제컨퍼런스 (ICAST 2015) file 관리자 2015-09-18 147
250 구미전자정보기술원 FIB 장비교육 워크숍 개최 file 관리자 2015-09-11 185
249 제 3회 TESCAN KOREA USERS MEETING file 관리자 2015-09-07 160
248 [BRUKER] Micro XRF on SEM 무료 Sample Test 프로모션을 진행 file 관리자 2015-08-13 116
247 [BRUKER] EBSD Workshop file 관리자 2015-08-11 83
246 서울대학교 재료분석 Workshop file 관리자 2015-08-05 208
245 Basic TEM 워크숍_구미전자정보기술원(GERI) file 관리자 2015-08-04 127
244 Electron Microscope Analysis Workshop file 관리자 2015-06-29 193
243 [자이스 코리아] '2015 ZEISS FE-SEM Workshop' 개최 file 관리자 2015-06-17 304
242 2015년 한국현미경학회 제 22 회 투과전자현미경 워크샵 file 관리자 2015-06-05 645
241 제 17 회 주사전자현미경 워크샵 개최-취소 file 관리자 2015-06-04 625
240 2015년 5월 구미전자정보기술원 FIB Basic 워크숍 file 관리자 2015-05-07 173
239 제1회 첨단분석 워크숍 안내 file 관리자 2015-04-21 305
238 [BRUKER] 2015년 6월 4일 Micro-XRF on SEM 워크숍 file 관리자 2015-04-21 152
237 2015년 제3사분기 HVEM 장비 이용신청 안내 file 관리자 2015-03-24 145
236 FIB / EDS•EBSD Seminar file 관리자 2015-03-06 512
235 구미전자정보기술원(GERI)_2015년 Basic TEM 워크숍 안내 file 관리자 2015-03-03 397
234 제 17 회 주사전자현미경 워크샵 개최 file 관리자 2015-01-26 615