작성자: 관리자   |   등록일: 2020-01-30 11:16:38
댓글: 0
조회 수: 204

안녕하십니까,

 

금번 KIST 특성분석센터에서 Low energy milling FIB (Hitachi, Ethos NX5000), Ion milling system (Hitachi, Ar blade 5000), Environmetal system을 구축하면서 초정밀 TEM 시편과 대기 환경에 민감한 시편의 전자현미경 응용 및 해석 기술에 대한 정보를 공유하고자 장비 오픈식과 워크숍을 준비하였습니다.

이번 워크숍을 통하여 최첨단 분석 장비가 대내외적으로 공동활용될 수 있는 기회로 자리매김할 수 있도록 많은 참석 부탁드립니다.

 

일시: 2월 13일 (목요일)

장소: KIST 국제협력관 제1회의실

문의: 이지영 (02-958-4946), leejy@kist.re.kr

 

* 하단 링크 혹은 QR 코드로 참가신청 부탁드립니다. (하단 이미지가 안보이는 경우엔 첨부파일 확인 부탁드립니다)

* 하단 링크를 모바일에서 열어서 참가신청 작성 가능합니다.

* 선착순 인원 제한 있습니다.

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 https://docs.google.com/forms/d/e/1FAIpQLSetvTgwMoB83DszTNqKaGmUMZqi5gtQDF5QzcHpjzHiSbUKLg/viewform?usp=pp_url

 

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KIST FIB Workshop_final_v2.jpg

 

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