작성자: 관리자   |   등록일: 2018-02-05 10:48:51
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NanoBiz Korea는 Bruker 사의 전자현미경용 나노인덴터를 위한 국내 대리점으로 전자현미경(TEM/SEM) 내에서 실험하는 In-Situ 나노인덴터를 국내에 공급하고 있습니다.
최근 새롭게 개발된 nanoScratch testing Option은 SEM 내에서 새로운 어플리케이션을 지원할 수 있는 기능으로서 SEM을 사용하시는 분들께 소개를 하고자 합니다.
 
In-Situ nanoScratch Option은 PI-88 SEM PicoIndenter의 Indentation, Bending, Tesile, Compression Testing과 함께 시편의 Films and Coatings, Structures, Particle-Substrate Interaction과 같은 다양한 어플리케이션을 지원합니다.
SEM을 통하여 실시간으로 실험을 관찰하는 In-Situ testing을 지원하기 때문에 실험을 하는 동안 시편의 계면이 깨지는 것을 직접 눈으로 확인할 수 있습니다.
 
 
 
또한, nanoScratch 실험 도중 샘플이 깨질 때 film delamination에 의해서 힘과 변위 곡선에 불연속적인 부분이 생기기도 하고, 때로는 film delamination 이 아닌 film 자체의 facture에 의해서 불연속적인 부분이 생길 수도 있는데 SEM으로 실시간으로 관찰하는 In-Situ 실험을 하기 때문에 정확히 film의 계면에 어떤 현상이 생기는지 쉽게 확인할 수 있습니다.
 
아래 링크에서 Presentation 파일을 다운 받으시면 해당 장비를 통한 실험 동영상을 보실 수 있습니다.
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