작성자: 관리자   |   등록일: 2018-01-02 13:21:28
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2018년도 제20회 한국현미경학회 전문가자격검정 시험 공고

 

안녕하십니까?

2018년도 제20회 한국현미경학회 전자현미경전문가 기술자격검정 시험 일정을 안내해드립니다.

 

1. 접수

 

1) 제출서류

. 지원원서 (사진 2매 포함)

. 응시료 (우편 접수 시 우편환 이용하여 동봉 또는 계좌 입금)

. 경력증명서 또는 대학 졸업증명서 (전문대 졸업자는 졸업증명서와 경력증명서)

 

[주의사항]

- 서류양식은 첨부된 파일을 내려 받아 작성하기 바람 (응시원서.hwp).

지정된 원서를 사용하고, 원서 인쇄 시 좌우여백을 5 mm로 맞추기 바람.

- 18회 및 19회 검정시험의 필기시험 합격자는 본 20회 필기시험 응시료는 면제이나,

접수기한 내 수검원서 (필기시험 합격내용 표시)를 제출하여야 실기시험 응시자격이

유효함.

 

3) 접수기간 : 2018122 18:00 도착분에 한함

 

4) 접수처 : 한국기초과학지원연구원 전자현미경연구부 이수라

[34133] 대전광역시 유성구 과학로 169-148

문의 : 전화 042-865-3440, 이메일 sura@kbsi.re.kr (이수라)

 

5) 응시료 : 2: 30,000(실기시험 응시료 별도), 1: 50,000

계좌번호 : 국민은행 012537-04-007541 ()한국현미경학회

영수증발급 문의 : 전화 02-919-8775 (학회사무국)

 

2. 필기시험

 

1) 일 시 : 2018127() 1240~ 1555

 

2) 수검종목 : 전자현미경 전문가 1, 전자현미경 전문가 2

 

3) 시험장소

. 한국기초과학지원연구원 전자현미경동 1층 회의실 (대전시)

신청접수 인력 수에 따라 일부 변동될 수 있음.

 

4) 시험과목

. 2(재료분야는 SEMTEM 구분하여 시행하고, ·생물분야는 공통)

* 재료분야 SEM

- 1교시 : 전자현미경 원리와 구조 : 전자현미경의 기초이론과 일반구조

- 2교시 : 전자현미경 성분분석 : EDS WDS 성분분석 원리, 장치 및 분석법

- 3교시 : 전자현미경 작동 및 분석 : 전자현미경의 작동방법, 유지관리, 결과분석

 

* 재료분야 TEM

- 1교시 : 전자현미경 원리와 구조 : 전자현미경의 기초이론과 일반구조

- 2교시 : 전자현미경 시료제작 : 전자현미경의 관찰에 필요한 시료 처리 및 제작

- 3교시 : 전자현미경 작동 및 분석 : 전자현미경의 작동방법, 유지관리, 결과분석

 

* ·생물 분야 (SEMTEM 공통)

- 1교시 : 전자현미경 원리와 구조 : 전자현미경 기초이론과 일반구조

- 2교시 : 전자현미경 시료제작: 전자현미경 관찰에 필요한 시료 처리 및 제작

- 3교시 : 전자현미경 작동 및 분석 : 전자현미경의 작동방법, 관리유지, 결과분석

 

. 1(재료분야 및 의·생물분야 모두 SEMTEM 공통)

- 1교시 : 전자현미경 원리와 구조 : 전자현미경 기초이론과 일반구조

- 2교시 : 특수기술 : 최근에 개발된 특수기술

- 3교시 : 전자현미경 작동 및 분석 : 전자현미경의 작동방법, 유지관리, 결과 분석

 

5) 시험방법 : 2객관식 / 1주관식

 

3. 실기시험

 

1) 지원자격 : 필기시험 합격자 또는 면제자 (합격자는 학회 홈페이지에 공지)

 

2) 일 시 : 2018210(), 오전 840~ 오후 5

 

3) 수검종목 : 전자현미경 전문가 2(1급은 실기시험 없음)

 

4) 시험장소

* 재료분야

- 성균관대학교 자연과학캠퍼스 제2공학관 26211강의실(경기 수원시)

- 경남대학교 제2공학관 501강의실(경남 창원시)

- 한국기초과학지원연구원 전자현미경동 회의실(대전시)

 

* ·생물분야

- 서울대학교 농생명과학 공동기기원 나노바이오미징센터 (NICEM) 208

 

5) 시험과목 및 방법

- 1교시 : [주관식] 전자현미경 작동원리, 분석과정 및 결과분석 능력 등 평가

- 2교시 : [실기] 전자현미경 운용능력 및 미세구조 해석능력 평가

 

6) 시험장비

- 성균관대학교 SEM: Hitachi S3500

- 경남대학교 SEM: Hitachi S4200

- 한국기초과학지원연구원 TEM: JEOL JEM-2100F, SEM: Hitachi S4800

- 서울대학교 TEM: JEOL JEM1010, Zeiss Libra 120, SEM: Zeiss Supra55VP

 

7) 사전견학 : 25() ~ 8() 시험장비에 대한 사전견학 가능. 전화예약필수

성균관대학교: 031-290-7369 /경남대학교: 055-249-2564 /서울대학교: 02-880-4957

/한국기초과학지원연구원 042-865-3961

 

8) 응시료 : 50,000(시험 당일 납부)

4. 응시자격

 

- 전문가 2급은 다음 각항의 1에 해당하는 자

1) 산업기사의 자격을 취득한 후 응시하고자 하는 종목이 속하는 동일 직무분야에서 1년 이상 실무에 종사한 자

2) 기능사자격을 취득한 후 응시하고자 하는 종목이 속하는 동일 직무분야에서 3년 이상 실무에 종사한 자

3) 다른 종목의 기사자격을 취득한 자

4) 대학졸업자 또는 졸업예정자 (8학기 수료)

5) 전문대학졸업자 등으로서 졸업 후 응시하고자 하는 종목이 속하는 동일 직무분야에서 2년 이상 실무에 종사한 자

6) 기술자격 종목별로 산업기사의 수준에 해당하는 교육훈련을 실시하는 기관으로 노동부령이 정하는 교육훈련기관의 기술훈련과정을 이수한 자로서 이수 후 동일 직무분야에서 2년 이상 실무에 종사한자

7) 기술자격 종목별로 기사의 수준에 해당하는 교육훈련을 실시하는 기관으로서 노동부령이 정하는 교육훈련기관의 기술훈련과정을 이수한자 또는 그 이수예정자

8) 응시하고자 하는 종목이 속하는 동일 직무분야에서 4년 이상 실무에 종사한 자

9) 외국에서 동일한 등급 및 종목에 해당하는 자격을 취득한 자

 

- 전문가 1급은 다음 각항의 1에 해당하는 자

1) 전자현미경전문가 2급 자격을 취득한 후 응시하고자 하는 종목이 속하는 동일 직무분야에서 4년 이상 실무에 종사한 자

2) 산업기사의 자격을 취득한 후 응시하고자 하는 종목이 속하는 동일 직무분야에서 6년 이상 실무에 종사한 자

3) 기능사 자격을 취득한 후 응시하고자 하는 종목이 속하는 동일 직무분야에서 8년 이상 실무에 종사한 자

4) 4년제 대학 졸업자 또는 이와 동등 이상의 학력이 있다고 인정되는 자 (이하 "4년제 대학졸업자 등"이라 한다)로서 졸업 후 응시하고자 하는 종목이 속하는 동일 직무분야에서 7년 이상 실무에 종사한 자

5) 기술자격 종목별로 기사의 수준에 해당하는 교육훈련을 실시하는 기관으로서 노동부령이 정하는 교육훈련기관의 기술훈련과정을 이수한 자로서 이수 후 동일 직무분야에서 7년 이상 실무에 종사한 자

6) 전문대학 졸업자 또는 이와 동등 이상의 학력이 있다고 인정되는 자(이하 "전문대학졸업자 등이라 함)로서 졸업 후 응시하고자 하는 종목이 속하는 동일 직무 분야에서 9년 이상 실무에 종사한 자

7) 기술자격 종목별로 산업기사의 수준에 해당하는 교육훈련을 실시하는 기관으로서 노동부령이 정하는 교육훈련 기관의 기술훈련과정을 이수한 자로서 이수 후 동일 직무분야에서 9년 이상 실무에 종사한 자

8) 응시하고자 하는 종목이 속하는 동일 직무분야에서 11년 이상 실무에 종사한 자

9) 외국에서 동일한 등급 및 종목에 해당하는 자격을 취득한 자

 

작성자 : 한국현미경학회 기술이사 이석훈 (shlee@kbsi.re.kr), 허양훈 (hyh1127@kbsi.re.kr)

 

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